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An instrument for surface roughness meas... Proc.SPIE 2005 5638 638 641 会议论文 Optical Design and Testing II
Interface plasmonic properties of silver... Proc.SPIE 2011 8168 81681V (6 pp.) 会议论文 Advances in Optical Thin Films IV
An instrument for surface roughness measurement of optical thin films
作者: ,Haihong Hou, Kui Yi, Jianda Shao , Zhengxiu Fan,
来源出版物: Proc.SPIEOptical Design and Testing II
出版年: 2005      卷: 5638      页: 638--641
文献类型:会议论文
Interface plasmonic properties of silver coated by ultrathin metal oxides
作者: Sytchkova, A.; Zola, D.; Grilli, M.L.; Piegari, A.; Fang, M.; He, H.; Shao, J.
来源出版物: Proc.SPIEAdvances in Optical Thin Films IV
出版年: 2011      卷: 8168      文章编号:81681V (6 pp.)
文献类型:会议论文
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出版年
2011(1)
2005(1)
 
所属专题
薄膜(2)
 
文献类型
会议论文(2)
 
所属部门
其他(2)
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